ES660系列ESD和LU测试系统是一种先进的多引脚自动化测试设备，旨在满足现代半导体测试的严格要求。这款多功能设备旨在无缝支持人体模型（HBM）、机器模型（MM）和闩锁测试，为评估集成电路（IC）和电子元件的可靠性和鲁棒性提供全面的解决方案。$nES660-P1 ESD静电和闩锁测试系统能够支持多达1024个引脚，是测试具有多种连接的复杂IC和电子元件的理想选择。

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作频段为DC-6GHz范围的带状线TEM小室，能够外接信号源产生电磁场，用于测试IC，无线通信模块等。外部信号通过EM601输入端口进行加载，在小室腔体内生产一个均匀、可控的电磁场，进行被测模块或IC的抗扰度测试。IC或其他模块安装在测试夹具上放入小室，其产生的辐射场特性也可以通过信号接收机连接EM601小室端口进行检测

A4003 ESD 电流靶校准套件（电流靶、适配器 （或 50 Ω 锥形适配器） 校准套装）是一套完整的多合一校准测量装置，用于检测ESD电流靶的频率响应（ – 4GHz），检测ESD电流靶适配器频率响应（-4GHz），还可根据 IEC/EN 61000-4-2 或 ISO10605标准检测校准静电放电模拟器波形。

ES62X-LVS 型低压浪涌测试系统能够输出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形，用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能，便于确定被测器件的ESD损伤阈值。